【NAND FLASH测试突破】全球遭受新型冠状病毒侵袭,忆数存储在做什么?

2020-06-09

经历了艰难的上半年“疫情”,闪存市场呈现出回暖之态,表面上一派繁荣。我们不能回避的是,国外经济V型复苏的可能性太小,至少是下半年机会不大。



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上游原厂的市场方向、产能输出、各国与中国贸易摩擦带来的动荡、产业链“去中国化”隐患......

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国内企业在单纯依赖闪存进口的道路上还能走多稳、多远?

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在举国产业推行国产化的大环境下,存储企业不得不思考--
·国内芯片技术刚刚起步,今后能买到的闪存到底是什么等级?
·是否还能满足当下的成品应用?
·供应链中到底哪个环节能够真正控制闪存的质量?

让我们一步步揭开闪存质量的神秘面纱。
现有的闪存测试技术可简单分为两种:

1、电气测试。

通过电压拉偏等测试FLASH的好与坏,测试的结果就是该FLASH质量是否满足出货要求。而FLASH的性能、寿命、寿命周期内的表现、变化等等都无从得知。

2、成品验证。

将FLASH焊接到PCB上,以成品形式来验证。这种测试极有可能会对FLASH造成不可逆的损伤,无论是焊接还是拆卸,都对FLASH及PCB上的其他电子元件造成损伤。并且测试周期非常长。同时,成品测试失效,还受PCB、主控、转接板、转接线的影响,结果不准确,也无法进行批量测试(代价太高)。

综上我们不难得知,通过现有测试技术并不能了解一颗闪存的质量等级和定义其成品应用,更不用说闪存寿命等关键要素。

闪存市场已经鱼龙混杂,从SLC到MLC,再到TLC、QLC等等,市场迫切需要一种全新的测试技术来实现对闪存质量的把控与筛选。

只有真正了解闪存的寿命错误率编程擦除宽温表现等等要素,才能够有效降低SSD成品和终端应用的质量风险,节约企业和终端客户的成本,实现对各类闪存的筛选和成品应用定义,将其价值最大化。

在军工和高端工业、监控SSD领域深耕多年的忆数存储,携国内独有的闪存质量检测仪完美的解决了这些难题:


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*Flash寿命预测(鉴定P/E次数)
*Flash等级定义和Flash分级
*数据的保留能力测试
*宽温下Flash的稳定性



 

           END


在后续的文章中,我们将以各项功能为起点,详细介绍这台闪存质量检测仪的功能。敬请期待。



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